明星電機株式会社--事業内容--耐ノイズ試験

プリント基板・ユニット等のEMC対策が必要な場合はお気軽にお問い合わせ下さい。最適なソリューションを御提案致します。

デジタル機器の誤動作の大きな要素は電源環境の悪化と、静電気の放電によるものとに大別されます。電子機器が高密度化され、小型素子・IC・LSIを使用するようになった事と、低湿度・着衣・床材料等の悪条件が重なり、静電気による被害、誤動作、素子の破壊等が増大しています。静電気放電はどこからでも侵入してきますので、その侵入を防ぐことの他に強電界による誤動作･破壊を起こさないように電子機器の耐力を上げる対策をしなければ「ダメ」なのです。それにはシステム内部のいろいろな部分の導体にどのように帯電するのか、どのような条件の時に放電するのか、また放電の帰路に誤動作や破壊を招く要因があるかどうかの分析や条件を変えての実験等を行います。試験は規定された放電電流特性をもった試験機から放電ガンを介して電子機器に直接あるいは間接に放電することにより行います。

デジタル機器の誤動作の大きな要素は電源環境の悪化と静電気の放電に依るものとに大別されます。この電源環境の悪化のうち、インダクティブ負荷の開放時に起こるインパルス性のノイズをシミュレーションする為の試験です。電源ラインに重畳してくるインパルス性のノイズは、数千ボルトに到達することもあります。本試験は急峻なパルスの立ち上りと多種類のパルス幅を選択でき得るように構成された試験器で、商用電源・ＤＣ電源や信号系ラインにも重畳させます。電界放射ケーブルにより強電界を形成させてデジタル機器を電界内に置いて試験することの他に試験機・浮遊容量・電源ライン・供試体・出力ケーブルという閉回路を経てユニットや基板に印加して試験をします。