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概要
近来、電子機器には、超高密度化された電子部品が多く使用されています。そのために輸送時や機器使用時に環境から受けるいろいろな振動に対して、より精度の高い対応が必要となってきています。
正弦波振動試験
  • 周波数固定振動試験:
特定の振動周波数・加速度(振幅)を規定して振動を与えます。
  • 掃引振動試験:
振動周波数の下限と上限を決め、この周波数の間を一定の変化率で周波数を変化(掃引)させます。
  • 共振探査試験:
振動周波数の下限と上限を決め、この周波数の間を一定の変化率で周波数を変化(掃引)させながら、与えた振動に対して供試品に発生する加速度を測定し、共振の有無や共振する周波数を求めます。
ランダム振動試験
  • 規定された周波数範囲の振動を同時に与えます。複数の周波数の振動が重なるため不規則な波形の振動になります。
衝撃波振動試験
  • 短い時間に特徴的な波形を加振する事によって、特出した故障などを再現します。
設備
加振器 正弦波(サイン) 294(N)、29.98(Kgf)
ランダム 117(N)、11.93(Kgf)
周波数レンジ 5〜3,000Hz
最大加速度 264(m/s2)
最大振幅 10(mm)

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